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1.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; SIMOES, M. L.; OLIVEIRA NETO, M.; NASCENTE, P. A. P.; CONSTANTINO, C. J. L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. A nanocarrier charge model for the transport in poly(o-alkoxyanilines). In: ENCONTRO DA SBPMAT, 10.; BRAZILIAN MRS MEETING, 10., 2011, Gramado. Resumos... Rio de Janeiro: SBPMat, 2011. não paginado.

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2.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.

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3.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Adhesion phenomenon on clay minerals studied by atomic force spectroscopy (AFS). In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.

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4.Imagem marcado/desmarcadoFIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. AFM as a tool for development sensors. Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.

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5.Imagem marcado/desmarcadoMOSIEWICKI, M. A.; SCHROEDER, W. F.; LEITE, F. L.; HERMANN, P. S. P.; CURVELO, A. A. S.; ARANGUREN, M. I.; BORRAJO, J. AFM fracture surface study of vinylester and unsaturated polyester based thermosets. Journal of materials science, Norwell, v. 41, n. 18, p. 6154-6158, 2006.

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6.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; HERRMANN, P. S. P; BERNARDES FILHO, R.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Aplicação da técnica de AFM na caracterização de sensores poliméricos. In: SIMPÓSIO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS, SICEM, 6, out. 2003, São Carlos. Resumos extendidos... São Carlos : USP, 2003. p.59-60.

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7.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.

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8.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Application of atomic force spectroscopy (AFS) to studies of adhesion phenomena: a review. Journal of Adhesion Science and Technology, Utrecht, v. 19, n. 3-5, p. 365-405, 2005.

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9.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors. Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.

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10.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; FERREIRA, F. C.; DA RÓZ, A. L.; CURVELO, A. A. S.; MATTOSO, L. H.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Atomic force microscopy as a tool to evaluate sisal fibers used in polymer composites. In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.

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11.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; SILVA, W. T. L. da; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N. Atomic force spectroscopy (AFS) on poly(o-ethoxyaniline) nanostructured. In: [Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy Program] - LASPM, 4., 2007, La Plata. [Anais...] [s. l. : s. n.], 2007. Pôster 27.

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12.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P. Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.

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13.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.

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14.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; SILVA, W. T. L. da; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. Atomic force spectroscopy on poly(o-ethoxyaniline) nanostructured films: sensing nonspecific interactions. Microscopy and microanalysis, New York, v. 13, n. 4, p. 304-312, 2007.

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15.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C. MANZOLI, A. OLIVEIRA, J. E. LEITE, F. L.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; CORREA, D. S. Bio-inspired sensor for insect pheromone analysis based on polyaniline functionalized AFM cantilever sensor. Sensors and Actuators . B, Chemical, Lausanne, v. 191, p. 643-649, 2014.

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16.Imagem marcado/desmarcadoPIZZOLATO, P.; FIRMINO, A.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; VAZ, C. M. P. Caracterização de filmes de PEDOT/PSS para aplicação em sensores interdigitados. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 16., Porto Alegre, 2004. Anais... Porto Alegre, 2004.

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17.Imagem marcado/desmarcadoGÓES, T. S.; HAUSEN, M.; ROSA, M. F.; DE MENEZES, A. J.; MATTOSO, L. H. C.; LEITE, F. L. Caracterização de nanocristais de celulose por microscopia de força atômica. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 8, 2014, Juiz de fora. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Campo Grande: Embrapa Gado de Corte; Juiz de Fora: Embrapa Gado de Leite, 2014. p. 197-200. Editores: Maria Alice Martins, Humberto de Mello Brandão, Marlene de Barros Coelho, Daniel Souza Corrêa, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.

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18.Imagem marcado/desmarcadoMORAES, A. S.; DEDA, D. K.; ROSA, M. F.; MARCONCINI, J. M.; MATTOSO, L. H. C.; LEITE, F. L. Caracterização de nanowhiskers de línter de algodão por microscopia de força atômica. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 7.; ESCOLA DE NANOTECNOLOGIA, 3., 2013, São Carlos, SP. Anais... São Carlos, SP: Embrapa Instrumentação, 2013. p. 297-299 Editores: Maria Alice Martins, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso. CD-ROM. Editores: Maria Alice Martins, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.

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19.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.

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20.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; MANZOLI, A.; CASELI, L.; CONSOLIN FILHO, N.; ZUCOLOTTO, V.; HERRMANN, P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. Chemical force microscopy: nanobiosensors using intelligent cantilevers. In: SIMPÓSIO LATINOAMERICANO DE POLÍMEROS - SLAP, 11., 2008, Lima, PE; CONGRESO IBEROAMERICANO DE POLÍMEROS, 9., 2008, Lima, PE. Anais... Lima: Pontificia Universidad Catolica del Peru, 2008. não paginado.

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1.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; SIMOES, M. L.; OLIVEIRA NETO, M.; NASCENTE, P. A. P.; CONSTANTINO, C. J. L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. A nanocarrier charge model for the transport in poly(o-alkoxyanilines). In: ENCONTRO DA SBPMAT, 10.; BRAZILIAN MRS MEETING, 10., 2011, Gramado. Resumos... Rio de Janeiro: SBPMat, 2011. não paginado.
Tipo: Resumo em Anais de Congresso
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2.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.
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3.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Adhesion phenomenon on clay minerals studied by atomic force spectroscopy (AFS). In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
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4.Imagem marcado/desmarcadoFIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. AFM as a tool for development sensors. Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.
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5.Imagem marcado/desmarcadoMOSIEWICKI, M. A.; SCHROEDER, W. F.; LEITE, F. L.; HERMANN, P. S. P.; CURVELO, A. A. S.; ARANGUREN, M. I.; BORRAJO, J. AFM fracture surface study of vinylester and unsaturated polyester based thermosets. Journal of materials science, Norwell, v. 41, n. 18, p. 6154-6158, 2006.
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6.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; HERRMANN, P. S. P; BERNARDES FILHO, R.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Aplicação da técnica de AFM na caracterização de sensores poliméricos. In: SIMPÓSIO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS, SICEM, 6, out. 2003, São Carlos. Resumos extendidos... São Carlos : USP, 2003. p.59-60.
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7.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.
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8.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Application of atomic force spectroscopy (AFS) to studies of adhesion phenomena: a review. Journal of Adhesion Science and Technology, Utrecht, v. 19, n. 3-5, p. 365-405, 2005.
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9.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors. Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.
Tipo: Artigo em Periódico IndexadoCirculação/Nível: A - 1
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10.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; FERREIRA, F. C.; DA RÓZ, A. L.; CURVELO, A. A. S.; MATTOSO, L. H.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Atomic force microscopy as a tool to evaluate sisal fibers used in polymer composites. In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
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11.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; SILVA, W. T. L. da; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N. Atomic force spectroscopy (AFS) on poly(o-ethoxyaniline) nanostructured. In: [Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy Program] - LASPM, 4., 2007, La Plata. [Anais...] [s. l. : s. n.], 2007. Pôster 27.
Tipo: Resumo em Anais de CongressoCirculação/Nível: -- - --
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12.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P. Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.
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13.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
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14.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; SILVA, W. T. L. da; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. Atomic force spectroscopy on poly(o-ethoxyaniline) nanostructured films: sensing nonspecific interactions. Microscopy and microanalysis, New York, v. 13, n. 4, p. 304-312, 2007.
Tipo: Artigo em Periódico IndexadoCirculação/Nível: Internacional - A
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15.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C. MANZOLI, A. OLIVEIRA, J. E. LEITE, F. L.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; CORREA, D. S. Bio-inspired sensor for insect pheromone analysis based on polyaniline functionalized AFM cantilever sensor. Sensors and Actuators . B, Chemical, Lausanne, v. 191, p. 643-649, 2014.
Tipo: Artigo em Periódico IndexadoCirculação/Nível: A - 1
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17.Imagem marcado/desmarcadoGÓES, T. S.; HAUSEN, M.; ROSA, M. F.; DE MENEZES, A. J.; MATTOSO, L. H. C.; LEITE, F. L. Caracterização de nanocristais de celulose por microscopia de força atômica. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 8, 2014, Juiz de fora. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Campo Grande: Embrapa Gado de Corte; Juiz de Fora: Embrapa Gado de Leite, 2014. p. 197-200. Editores: Maria Alice Martins, Humberto de Mello Brandão, Marlene de Barros Coelho, Daniel Souza Corrêa, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.
Tipo: Artigo em Anais de Congresso
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18.Imagem marcado/desmarcadoMORAES, A. S.; DEDA, D. K.; ROSA, M. F.; MARCONCINI, J. M.; MATTOSO, L. H. C.; LEITE, F. L. Caracterização de nanowhiskers de línter de algodão por microscopia de força atômica. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 7.; ESCOLA DE NANOTECNOLOGIA, 3., 2013, São Carlos, SP. Anais... São Carlos, SP: Embrapa Instrumentação, 2013. p. 297-299 Editores: Maria Alice Martins, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso. CD-ROM. Editores: Maria Alice Martins, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.
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19.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.
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20.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; MANZOLI, A.; CASELI, L.; CONSOLIN FILHO, N.; ZUCOLOTTO, V.; HERRMANN, P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. Chemical force microscopy: nanobiosensors using intelligent cantilevers. In: SIMPÓSIO LATINOAMERICANO DE POLÍMEROS - SLAP, 11., 2008, Lima, PE; CONGRESO IBEROAMERICANO DE POLÍMEROS, 9., 2008, Lima, PE. Anais... Lima: Pontificia Universidad Catolica del Peru, 2008. não paginado.
Tipo: Artigo em Anais de Congresso / Nota Técnica
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